Модель Compact TK– это адаптерная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве.
Функциональные возможности:Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например, при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с ограниченной длительностью (backdriving - принудительный перевод логики в нужное логическое состояние). Максимальное количество гибридных тестовых каналов (аналоговых/цифровых) системы – 1536 (с шагом, кратным 64). Система работает с адаптерными устройствами типа «поле контактов» (bed-ofnails) с автоматическим пневматическим прижимом. В тестер по модульному принципу могут быть добавлены функциональные модули источников питания, контроллера динамического цифрового тестирования, а также дополнительные мультиплексирующие, релейные и цифровые модули.
Тестируемая плата |
Макс. размер: 480х360 мм |
Внутрисхемное тестирование |
КЗ/Обрывы |
Сопротивление: 0,1 Ом - 100 МОм |
|
Емкость:10 пФ - 10000 мкФ |
|
Индуктивность: 1 мкГн - 100 мГн |
|
Транзисторы |
|
Диоды и стабилитроны до 100 В |
|
Трансформаторы |
|
Реле |
|
Проверка неприпаянных выводов микросхем (опция) |
|
Контроль качества пайки (опция) |
Система локализации неприпаянных выводов микросхем (BGA, QFP, PLCC и т.д.) |
Производительность |
Время внутрисхемного тестирования платы с 60-100 компонентами ориентировочно 15-25 с. |
Общие характеристики |
Габаритные размеры (ДхШхВ): 1600х900х1600 мм |
Вес: 300 кг. |
|
Эл.питание: 220В, 50Гц, 2,5 кВт |
|
Пневмопитние: 5,5 атм, 20л/мин |