Образцы для спектрального анализа должны быть представительными, гомогенными и иметь ровную поверхность для того, чтобы устранить факторы, влияюшие на результат анализа. Оптико-эмиссионная (OES) и рентгено-флуоресцентная (XRF) спектрометрия наиболее широко используемые технологии для анализа химического состава металлов и твердых образцов.
Для подготовки твердых металлических образцов компания Metkon разработала станки для ручной и автоматической подготовки образцов - от небольших настольных дисковых шлифовальных станков для обработки поверхности до автоматических фрезерных станков. С серией станков Spectral для подготовки спектральных образцов Metkon предлагает решения для пробоподготовки таких материалов, как: сталь, чугун, алюминий, медь и другие цветные металлы.
Со станками для пробоподготовки производства компании Metkon - Вы всегда будете готовы к спектральному анализу.